芝加哥大學的科學家設計了一個電子顯微鏡來檢測對象的三分之一現(xiàn)在觀察到的這些，這將有可能第一次看到大多數固體中的原子結構的大小。
大學將建立顯微鏡從國家科學基金會99萬美元的資金，由國際商業(yè)機器公司承諾的計算設備的價值100萬美元的贈款。
博士偉業(yè)五克魯，一直負責一些重大進展，在電子顯微鏡的大學教授設計的儀器，并監(jiān)督其在未來三年的建設。失真校正裝置，他于1981年提出的一個關鍵組成部分。
他說，他希望在顯微鏡記錄的詳細信息，不到半埃寬。一埃，用來測量光波的長度單位，是大約四英寸的十億分。由于在許多材料中的原子間距，約一埃除了克魯博士認為，新的設備應能夠記錄的原子結構。
在宣布該項目，大學指出，今天最強大的顯微鏡可以直接檢測對象不少于兩個埃寬，只能記錄在特殊情況下，單個原子。會給3維圖像
，該裝置將結合掃描和透射電子顯微鏡的功能，因此將作為已知的掃描透射電子顯微鏡或干。第一臺電子顯微鏡的傳輸類型和功能簡單的顯微鏡的光線通過一個非常薄的標本照的一樣多。取決于光波的
測量顯微鏡無法觀察到任何小光的波長被用來作為。非常高能量的電子振蕩遠遠比光的波長較短。集中在透射電子顯微鏡等電子束在試樣上，并通過它。至于在光鏡下，由此產生的圖像是二維的。
掃描電子顯微鏡與電子轟擊試樣，然后記錄從表面釋放的沖擊梁的二次電子能夠產生三維圖像。
鑒于玻璃鏡片在光學顯微鏡，他們的同行，必須重點電子磁。然而，這種電子鏡頭產生一種內在的失真稱為軸向孔徑像差。正是這種失真，博士克魯希望他sextupole(六針)校正，大大提高了顯微鏡的性能可以通過刪除。
“我們90%的信心，校正工作，他最近說。一位IBM 4341計算機將被用于操作校正，處理和存儲的圖像，并在發(fā)展過程中，在計算系統(tǒng)的設計特點一些援助。它將使4000圖像歸檔。 IBM將盡早獲得其在材料科學的研究手段。
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